СТАНКИН на международной конференции SPIE/COS Photonics Asia 2026

С 24 по 26 октября в китайском Наньтуне прошла международная конференция SPIE/COS Photonics Asia 2026. Её организовали Международное общество оптики и фотоники (SPIE) и Китайское оптическое общество (COS).

Учёные и представители промышленности обсудили современные исследования в области фотоники, оптических измерений, компьютерного зрения и микроэлектроники.

Университет представил Кирилл Данилин, сотрудник Центра когнитивных технологий и машинного зрения МГТУ «СТАНКИН». В секции Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications XIII он выступил с двумя научными работами.

A Hybrid Approach to the Localization of Microelectronic Components Based on Statistical Image Analysis
Гибридный метод определения положения и ориентации микроэлектронных компонентов, который автоматически выбирает между классическими алгоритмами компьютерного зрения и нейросетевой моделью на основе характеристик изображения. Такой подход позволяет адаптировать обработку к изменяющимся условиям съёмки, учитывая точность и вычислительные затраты.

Unsupervised Localization of Probe-Needle Tips for Probe-Station Alignment in Wafer-Inspection Images
Алгоритм автоматического определения координат наконечников контактных игл зондовых станций, используемых при тестировании полупроводниковых пластин. Метод основан на анализе локального фона и геометрии игл, не требует предварительного обучения на размеченных изображениях и ориентирован на задачи автоматизации оптической юстировки оборудования.

Также Кирилл Данилин кратко поделился информацией об особенностях исследований:

«В наших работах мы уделяем особое внимание практическому применению методов компьютерного зрения. Важно не только обеспечить точность алгоритмов, но и понимать их ограничения при работе с реальным технологическим оборудованием, где условия съёмки могут существенно меняться. Участие в SPIE/COS стало возможностью представить наши результаты международному научному сообществу, обменяться опытом с коллегами и обсудить перспективы применения машинного зрения для автоматизации контроля в микроэлектронном производстве».